Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau
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Description
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Product details
- EAN/ISBN:
- 9783798321458
- Medium:
- Paperback
- Number of pages:
- 106
- Publication date:
- 2010-01-04
- Publisher:
- Universitätsverlag der TU Berlin
- EAN/ISBN:
- 9783798321458
- Medium:
- Paperback
- Number of pages:
- 106
- Publication date:
- 2010-01-04
- Publisher:
- Universitätsverlag der TU Berlin
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